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LP110 葉面積指數測量儀產品介紹：

  LP110 葉面積指數測量儀用于測量闊葉冠層的葉面積指數（Leaf Area Index，LAI）。葉面積指數是指單位土地面積上植物葉片總面積占土地面積的倍數。即：葉面積指數=葉片總面積/土地面積。

用于測量闊葉冠層的葉面積指數（Leaf Area Index，LAI）。葉面積指數是指單位土地面積上植物葉片總面積占土地面積的倍數。即：葉面積指數=葉片總面積/土地面積。LaiPen葉面積指數測量儀計算LAI和其他冠層結構參數是基于寬角度輻射傳感器接收到的太陽輻射。在冠層上部和下部的測量結果用來確定冠層的光截獲，使用冠層輻射傳遞模型計算LAI。其他測量LAI的儀器，一般都需要有云或者特定日傾角才能達到較好的性能，而LaiPen在大部分日照條件下都可以得到準確的數據，能夠在多種環(huán)境條件下為科學家提供快速可靠的測量結果。 

有兩種操作方式：單傳感器模式——使用同一臺儀器在測量前、后或測量中進行參照測量；

                            雙傳感器模式——使用第二臺儀器進行參照信號的自動測量和記錄。

應用領域：       

冠層生長與生產力       

森林動態(tài)       

空氣污染、蟲害、病害等脅迫對植物的影響       

遙感數據的地面校準和驗證       

全球碳循環(huán) 

技術參數：